表面观察及分析

岛津能够提供钢铁、有色金属、环境、食品、化工、制药、半导体、陶瓷及高分子等众多领域客户,多种样品分析所需种类繁多的分析仪器。电子探针(EPMA)分析的物件从几厘米到几微米;X光光电子能谱仪(XPS)分析的物件从几毫米到几微米;而扫描探针显微镜(SPM)观察范围从100微米到几奈米。

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SPM-8000FM高感度扫描型探针显微镜

SPM-8000FM
高感度扫描型探针显微镜

HR-SPM为采用FM频率调变检出方式的新世代扫描型探针显微镜。过去的SPM(扫描型探针显微镜)/AFM(原子力显微镜)一般为AM(震幅调变)的方式, FM(频率调变)方式原理上为高感度测定法,可以更高分解能成像。不仅可以超高分解能观察大气中以及液体中的样品,也可观察在固液界面的水合、溶合作用。

SPM-9700扫描探针显微镜

SPM-9700HT
扫描探针显微镜

可高倍率观察样品的三维立体形状或局部物性的显微镜。因其丰富的功能性与扩张性,可支援各种需求。精进的软体介面,从观察到分析的操作更为顺畅。

EPMA-8050电子探针

EPMA-8050G
电子探针

此仪器配备有尖端的场发射电子光学系统(FE-Gun),其中提供了前所未有的空间分辨率以及大电流输出,实现超高灵敏度分析。最多可装到五组侦测器 ,以缩短分析时间。人性化的介面使用者更容易上手,只要使用滑鼠就可完成分析,更甚而可以完成整份报告。

EPMA-1720/1720H电子探针

EPMA-1720/1720H
电子探针

可在微区领域进行高灵敏度、高精度分析。控制系统全部数位化。观察、分析只需使用滑鼠、键盘,Windows操作系统,使用方便且安全。还可通过区域网电脑浏览数据。EPMA-1720H型配备高性能CeB6灯丝,实现了在微奈米领域的分析实用化。

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